篩選是在生產(chǎn)過程中對(duì)IC進(jìn)行質(zhì)量控制和性能驗(yàn)證的重要步驟。篩選和質(zhì)量控制是高可靠元器件生產(chǎn)中的重要環(huán)節(jié)。對(duì)于優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品，通過篩選可使整批產(chǎn)品達(dá)到其固有的高可靠性。對(duì)于劣質(zhì)產(chǎn)品，由于其固有的缺陷，就不可能篩選出高可靠產(chǎn)品。作為專業(yè)電子元器件篩選檢測(cè)機(jī)構(gòu)，江蘇粵科檢測(cè)擁有電子元器件全領(lǐng)域的篩選檢測(cè)設(shè)備和能力，下面為您詳細(xì)講解半導(dǎo)體集成電路篩選的相關(guān)信息。

半導(dǎo)體集成電路篩選標(biāo)準(zhǔn)及要求

一、氣密封裝（陶封、金封）

1.外部目檢：GJB548 方法2009

2.常溫初測(cè)：25℃下常溫電測(cè)試

3.溫度循環(huán)：GJB548 方法1010，試驗(yàn)條件 C，循環(huán)10次

4.PIND：GJB548 方法2020

5.老煉前電測(cè)試：25℃下常溫電測(cè)試

6.老煉：GJB548方法1015，125℃，160h

7.煉后電測(cè)試：125℃下高溫電測(cè)試、-55℃下低溫電測(cè)試

8.密封：GJB548 方法1014

9.終點(diǎn)電測(cè)試：25℃下常溫電測(cè)試

10.外部目檢：GJB548方法2009

二、非氣密封裝（塑封）

1.外部目檢：GJB548 方法2009

2.常溫初測(cè)：25℃下常溫電測(cè)試

3.聲掃：GJB548方法2030

4.溫度循環(huán)：GJB548 方法 1010，試驗(yàn)條件 C，循環(huán)至少 50 次

5.老煉前電測(cè)試：25℃下常溫電測(cè)試

6.老煉：GJB548 方法1015,至少125℃，至少160h

7.煉后電測(cè)試：125℃下高溫電測(cè)試、-55℃下低溫電測(cè)試

8.聲掃：GJB548方法2030

9.終點(diǎn)電測(cè)試：25°C下常溫電測(cè)試

10.外部目檢：GJB548 方法2009

半導(dǎo)體集成電路篩選方案的設(shè)計(jì)原則

篩選效率 W=剔除次品數(shù) / 實(shí)際次品數(shù)

篩選損耗率 L=好品損壞數(shù) / 實(shí)際好品數(shù)

篩選淘汰率 Q=剔降次品數(shù) / 進(jìn)行篩選的產(chǎn)品總數(shù)

為什么選擇江蘇粵科檢測(cè)？

1. 依據(jù)客戶產(chǎn)品規(guī)格，準(zhǔn)確制定元器件的篩選方案和規(guī)程。

2. 依據(jù)篩選結(jié)果，準(zhǔn)確定位元器件失效機(jī)理，并依據(jù)客戶需求給出元器件失效分析方案。

3. 軍用級(jí)檢測(cè)體系控制，保證測(cè)試流程和測(cè)試精度，第三方公正檢測(cè)機(jī)構(gòu)。

4. 元器件一站式檢測(cè)服務(wù)：DPA檢測(cè)、AEC-Q100、AEC-Q200、失效分析等檢測(cè)能力。

5. 公司從2007成立實(shí)驗(yàn)室以來，專注于元器件檢測(cè)研發(fā)、標(biāo)準(zhǔn)制定、設(shè)備升級(jí)、元器件數(shù)據(jù)分析和工藝改進(jìn)、供應(yīng)鏈管理等。

江蘇粵科檢測(cè)可開展電子元器件檢查篩選、密封性篩選、環(huán)境應(yīng)力篩選、壽命篩選、電測(cè)試篩選等元器件篩選檢測(cè)服務(wù)，如果您有相關(guān)篩選需求，歡迎咨詢粵科工程師，我們竭誠(chéng)為您服務(wù)！

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  2023-08-11
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